■ 不良セクタシミュレーション 外付けケース 耐久性検査
※ ベータ版のBuild：2820より、耐久性に関する調査向けに、アルゴリズムを改良いたしました。
ある程度のセクタを部分調査いたしまして、全体の予測を行う点を主に改良していきましたが、今回は「全セクタ」を調査する部分を改良いたしました。
今回の改良は、ドライブ側の不良セクタに関する予測を目的とするものではなく、ドライブを接続する「外付けケース」に関する調査のための機能・改良となります。
大事なデータを扱いますので、最重要な点は耐久性と考えております。
こちらでも色々と調査しておりますが、数十テラバイトを越えたあたりから、
明らかにデータの出し入れ(ディスクIO)がおかしくなるケースを結構拝見いたしました。
※ 同じ型番でもばらつきがありまして、いわゆる「当たり」「はずれ」が存在いたします。
なお、あくまでもこれはケースの検査で、そこに接続されるドライブには負荷が大きめの調査となりますので、不要となりました１～３テラバイトあたりのハードディスクが便利です。
それを調査対象のケースに接続いたしまして、じっくりと３週程度全セクタ(全セクタを回すため解析ゲージOFF)回していき、３週とも全てグリーンになれば、特に問題ないという判断になります。
■ 不良セクタシミュレーション 操作方法
※ Build：2249より大幅に改善され、使い勝手が向上いたしました。
1, スキャンを途中から再開できるレジューム機能が加わりました。
このため、完全スキャン機能と同じ感覚でご利用いただく事が可能となりました。
2, ビッグデータを利用する事により、SSDに対応いたしました。(HDDはビッグデータ不要です)
本機能は、全エディション(フリー完全対応)で対応いたします。[＞＞ ライセンスについて]
このスキャンは、セクタの調査を念入りに行い、約3ヵ月後～半年後の状況を予測していく機能となっております。
お時間は相当量必要となりますが、環境に依存されず、ビッグデータを使わなくても正確な結果を出す事ができます。
上部のメニュー＝＞「完全・詳細スキャン設定」1番項目より、不良セクタシミュレーションを選択いたします。
● 4番より、スキャンされるドライブを選択(左端のボックスにチェックを入れます)いたします。
※ 複数のドライブにチェックを入れますと、それらドライブを同時に検査できます。
● 2番を左クリックいたしますと、不良セクタシミュレーションが開始されます。
※ 詳細スキャンは、複数の機能を一つにまとめております。
● 1番を左クリックいたしますと、強制終了いたします。
※ Build：2249より途中再開(レジューム)をサポートいたしました。途中で強制終了いたしましても、再開できます。
● 2番は現在の不良セクタ状況を示しております。
※ こちらを利用し、現在と将来を比較することができる機能となっております。ただ、お時間を要します。
● 4番は途中で解析を切り上げる「解析ゲージ」となっております。
※ スキャンの連続性をゲージとして表示しております。連続性が高い場合は、途中でも影響が小さいためです。
※ 容量が大きい場合は、時間短縮を図りつつ、精度を保ち調査できる最新機能「統計スキャン(ビッグデータ系)」をお勧めいたします。
● 1番は、現在のセクタの状況です。
※ こちらは、完全スキャンの結果と一致いたします。
● 2番は近い将来に発生する不良セクタ(約3ヵ月後～半年後)を示しております。
※ 現在はなくとも、こちらに不良が出た場合は、交換を強くお勧めいたします。近い時期に壊れます。
