[SSD/NVMeのデータ損失を防ぐ統計スキャン] SSD/NVMeで最も怖いのは「突然の認識不能」です。そのために開発いたしました「統計スキャン」による検査で事前に故障兆候をキャッチできます。

2021年11月のリリースから約2年になります。

ようやく、統計スキャンの結果も掌握できてきて、確かな結果が揃ってきました。
そこで、このような開発では、予想を立てて、自社で検証後、その予想の正当性をリリース後に検証する「三段階のプロセス」が必要となります。
このようなプロセスは一般的な手法で、「仮説を立てて、自分で検証後、その仮説の正当性を実験などで検証」という流れは普通に行われている流れです。

統計スキャンの予想は以下二点です。

1, SSDの確率的な振る舞いを周波数領域で拝見し、その特性が上にならず良くない場合、短寿命となる。[1年以下、または1年から2年の間に、突然の認識不能となるリスクが急増]
2, S.M.A.R.T.でドライブの故障を観測することはできない。

検証の結果、予想通りの結果が得られ始めております。

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